pretraga knjiga
knjige
Donirati
Prijaviti se
Prijaviti se
prijavljenim korisnicima su dostupni:
lične preporuke
Telegram bot
istorija preuzimanja
poslati na Email ili Kindle
upravljanje zbirkama
sačuvanje u izabrano
Lično
Upite za knjige
Proučavanje
Z-Recommend
Spiskovi knjiga
Najpopularnije
Kategorije
Učešće
Donirati
Otpremanja
Litera Library
Donirati papirne knjige
Dodati papirne knjige
Search paper books
Moj LITERA Point
Pretraga ključnih reči
Main
Pretraga ključnih reči
search
1
Semiconductor material and device characterization_Solution manual
Wiley-IEEE Press
Dieter K. Schroder
slope
versus
square
resistance
intercept
exp
determine
capacitance
voltage
device
equation
layer
nkt
5x10
current
idv
leading
3x10
junction
2.3nkt
300k
density
diode
doping
increases
linear
ohms
schottky
semiconductor
solving
vps
1.73x10
2x10
cox
oxide
probe
values
210k
7.85x10
axis
biased
calculate
characterization
choose
cins
contacts
deviation
fav
interc
measured
Godina:
2006
Jezik:
english
Fajl:
PDF, 13.25 MB
Vaši tagovi:
0
/
0
english, 2006
1
Idite na
ovaj link
ili potražite bota „@BotFather“ u Telegramu
2
Pošaljite komandu /newbot
3
Navedite ime za svog bota
4
Navedite korisničko ime za bota
5
Kopirajte poslednju poruku od BotFather i ubacite je ovde
×
×